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可靠性分析

  澳门沙金官方网站以半导体物理和器件物理为基础,工艺和产品特性为导向,结合业界各类相关标准(国军标、美军标、JEDEC、AEC-Q等),依据各类加速模型(温度加速、电压加速、电流加速、功率加速等)设计可靠性试验,采用统计分布(正态、对数正态、Weibull等)预测可靠性水平,为产品、工艺优化提供支撑和改善方向。


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